4.4 Defekte in amorphen Materialien

Die Topologie der Anordnung stimmt meistens. Abweichen von dieser Anordnung bezeichnet man als Defekte.

• Hohlräume (Leerstelle)

  Diese haben Einfluß auf die Zähigkeit, Diffusion und optische Eigenschaften.

• Ungesättigte Bindungen (dangling bond)

  Diese kommen selten in Chalkogenid-Gläsern (mit S, Se, Te, ...) vor wegen der s²p⁴-Konfiguration. Es handelt sich um zwei Bindungen mit p-Orbital, die leicht hybridisierbar, das heißt anpassungsfähig sind. Dies ist häufig der Fall bei amorphen Si wegen den starren sp³-Hybriden. Amorphes Si wird zunächst unbrauchbar für Anwendungen in der Elektrotechnik wegen der relativ hohen intrinsischen Leitfähigkeit. Es ist dadurch nämlich nicht dotierbar (siehe später). Abhilfe erhält man, indem bei schon bei der Herstellung viel Wasserstoff zum Absättigen der „dangling bonds“ zuführt.

  Amorphe Festkörper sind makroskopisch homogen auf einer Skala » Atomabstand. Es gibt somit keine ausgedehnten Defekte, insbesondere keine Korngrenzen ( Keramik). Der erkennt man dadurch, daß amorphe Festkörper transparent sind (und nicht milchig).